可精確測(cè)量物體表面粗糙度與平整度,為客戶提供諸如FTO導(dǎo)電玻璃的彎曲程度,以及半導(dǎo)體膜層的粗糙情況和膜層的厚度等情況的測(cè)試報(bào)告,測(cè)量精度可達(dá)0.1μm
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